数字电磁层析成像（EMT）仪

一套硬件 · 两种模式

DEMT-8 的双模式架构让一台设备覆盖两类典型应用：在层析成像模式下，重建被测圆形截面内导电/导磁介质的分布，分辨率可达截面面积的 1%（32×32 像素）；在金属探伤模式下，最小可检测 2×0.1×0.1 毫米的缺陷。频率覆盖 1 kHz - 200 kHz（标准版）或 0.1 Hz - 500 kHz（宽频版），可编程 3 阶前端放大让微弱信号也能稳定提取。

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• 层析 + 探伤双模式

  一套硬件支持两种工作方式：截面成像 + 金属内部缺陷检测，覆盖科研与工业检测需求。

• 高实时成像速率

  最高 400 帧/秒实时成像，可捕捉热轧、冶金等快速变化过程的瞬态行为。

• 高灵敏度信号链

  可编程 3 阶前端放大（1-8 倍），系统信噪比 60-90 dB；微弱缺陷也能稳定提取。

• 可编程测量序列

  8 通道任意组合与测量顺序，针对不同实验任务灵活配置激励-测量方案。